你知道嗎，使用不對也會(huì )導致進(jìn)口天平不準

　　你知道嗎，使用不對也會(huì )導致進(jìn)口天平不準；那有是哪些因素造成進(jìn)口天平不準呢？我們來(lái)看看吧！
 

　　使用不對也會(huì )導致進(jìn)口天平不準：
 

　　a.稱(chēng)量前應檢查天平是否正常，是否處于水平位置，玻璃框內外是否清潔。
 

　　b.稱(chēng)量物不能超過(guò)天平負載，不能稱(chēng)量熱的物體。
 

　　有腐蝕性或吸濕性物體必須放在密閉容器中稱(chēng)量。
 

　　c.同一化學(xué)試驗中的所有稱(chēng)量，應自始至終使用同一架天平，使用不同天平會(huì )造成誤差。
 

　　d.每架天平都配有固定的砝碼，不能錯用其他天平的砝碼。
 

　　保持砝碼清潔干燥，砝碼用鑷子夾取，不能用手拿，用完放回砝碼盒內。
 

　　e.稱(chēng)量完畢，應檢查天平梁是否托起，砝碼是否已歸位，指數盤(pán)是否轉到"0"，電源是否切斷，邊門(mén)是否關(guān)好。后罩好 天平，填寫(xiě)使用記錄。
 

　　f.經(jīng)常保持天平內部清潔，必要時(shí)用軟毛刷或綢布抹凈或用無(wú)水乙醇擦凈。
 

　　g.天平內應放置干燥劑。稱(chēng)量不得超過(guò)天平的大載荷量。
 

　　電子天平必須根據天平的使用地點(diǎn)實(shí)施重力加速度補償：
 

　　電子天平必須根據天平的使用地點(diǎn)實(shí)施重力加速度補償。內置校準砝碼補償方法及其不足。目前的電子天平普遍采用內置校準砝碼的補償方法，即在電子天平內部設置一個(gè)校準砝碼，通過(guò)對校準砝碼的稱(chēng)量得出當地的g值。這種補償方法需要增加電子分析天平的機械加載機構和自校砝碼，因此提高了產(chǎn)品成本和工藝復雜性。而且，內置砝碼在長(cháng)期使用后，難以進(jìn)行砝碼檢定和表面清潔處理，易于造成電子分析天平的時(shí)漂誤差。外附校準砝碼補償方法。將校準砝碼改為通用標準砝碼，作為電子分析天平的附件，直接通過(guò)稱(chēng)盤(pán)加載稱(chēng)量，可進(jìn)行重力加速度的自動(dòng)校準，實(shí)現重力加速度對天平稱(chēng)量影響的自動(dòng)補償。由于外附校準砝碼的準確度能夠得到保證，重力加速度的補償精度高，已獲得廣泛應用。